Новости Фото

В рамках РКЭМ 2016 состоялась 4-я Школа молодых ученых по электронной и зондовой микроскопии

Сегодня в рамках XXVI Российской конференции по электронной микроскопии (РКЭМ – 2016) состоялась 4-я Школа молодых ученых «Современные методы электронной и зондовой микроскопии в исследованиях наноструктур и наноматериалов».

На мероприятии со своими лекциями выступили российские специалисты из Национального исследовательского центра (НИЦ) «Курчатовский институт», Института проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов (ИПТМ) РАН, компании «Системы для микроскопии и анализа» (СМА) и Института кристаллографии (ИК) РАН. Также свои доклады зачитали представители зарубежных компаний: немецкой Bruker и голландской FEI.

Слушателями школы стали молодые ученые как из России, так и стран СНГ. По словам сотрудницы Института физики Национальной академии наук (НАН) Беларуси Ирины Андрухович, для нее лекции были очень полезными и информативными.

Многие из участников мероприятия собираются не только посетить конференцию РКЭМ 2016, но и сами будут выступать с докладами по микроскопии. Так, аспирант из иркутского Института геохимии им. А.П. Виноградова (ИГХ) СО РАН Василий Татаринов сегодня помимо лекций в рамках школы еще посетил презентацию атомно-силового микроскопа НЕКСТ компании «НТ-МДТ», а 1 июня на конференции он прочтет вместе с коллегой доклад по электронной микроскопии на тему «Особенности РСМА и РЭМ при поиске и изучении состава минералов, содержащих редкие и благородные металлы в рудах разного типа». Еще один из слушателей школы, сотрудник зеленоградского НИУ «МИЭТ» Михаил Ловыгин также с коллегами выступит в рамках конференции на тему «Исследование структуры слоя низкотемпературного арсенида галлия методами просвечивающей электронной микроскопии».

Кроме этого, для участников мероприятия организована экскурсия на завод «Микрон».

Об авторе

Валерия Щеголевская

Валерия Щеголевская

Корреспондент Russian IT World